1.       硅晶体检查，测量硅晶体的生长情况；

2.       检查晶片的着色、污染以及网状图案情况;

3.       识别所有的代码，跟踪晶片及PV电池;

4.       检查边缘碎裂、锯齿状痕迹，以及晶片上的轮廓缺陷;

5.       检查晶片/电池上防反射涂层的厚度以及颜色均匀性.